SEM-FIB Zeiss Leo 1540XB

Il microscopio Zeiss Leo 1540XB è uno strumento SEM a fascio incrociato (Cross Beam) con una sorgente a emissione FEG e ottiche elettromagnetiche Zeiss che permettono di raggiungere una risoluzione fino a 2 nm in modalità SEM e 150 nm in modalità FIB.

La sorgente FIB si basa su una sorgente di gallio (Ga), che consente la fresatura del campione per l'ispezione delle sezioni trasversali. Il sistema è integrato con un rivelatore EDS. Inoltre, è presente una criostage che consente l'ispezione di campioni congelati, una tecnica utile per campioni contenenti acqua, come quelli biologici, o per campioni sensibili ai danni da calore. È presente una camera di carico (load-lock) per la criocampionatura, che consente il rivestimento del campione tramite sputtering in situ, senza interrompere il raffreddamento durante l'intero processo di congelamento e imaging. Lo strumento è progettato per l'analisi dei materiali, dall'ispezione morfologica a quella elementare. Il criostage apre la possibilità di analizzare campioni biologici o campioni ad alto contenuto di acqua, senza procedure invasive di essiccazione. Cellule, alimenti, specie biologiche e gel sono alcuni dei campioni che possono essere facilmente analizzati con questo strumento. La presenza della colonna FIB consente la fresatura del campione per l'imaging in sezione trasversale, al fine di investigare la morfologia sotto la superficie del campione.

Personale tecnico responsabile: Martina Conti (Tecnologo).