L'AFM è dotato di moduli per l'imaging standard della topografia in modalità contatto e non contatto, oltre a moduli che forniscono imaging in diverse modalità, come: microscopia a forza atomica conduttiva (ConAFM), microscopia a forza elettrostatica (EFM) e microscopia a forza magnetica (MFM). L'AFM ha un azionamento piezoelettrico che fornisce una risoluzione fino a 0,1 nm nella direzione verticale e fino a decine di nanometri nella direzione laterale.
L'AFM può essere utilizzato per studiare la morfologia della superficie con risoluzione sub-nanometrica, nonché le proprietà magnetiche, elettrostatiche e conduttive della superficie del campione. Questo microscopio consente l'analisi con sonda di conduzione e con sonda di Kelvin (Bruker CP-II, APE Research A100) ed è progettato per investigare la topografia superficiale di campioni solidi con alta risoluzione.
Responsabile dello strumento: Dr. Vadym Tkachuk.
Disponibilità
Locazione
Laboratory of Organic Matter Physics
Univerza v Novi Gorici, Vipaska 11c, 5270 Ajdovščina, Slovenia
Accesso
Questo strumento è disponibile per 6 ore a settimana per le attività della rete ALL-MICRO.
Risultati d'esempio
(a) Immagine AFM che mostra la morfologia di un film sottile di molecole organiche (C8-BTBT) depositato su un substrato di Nitruro di Boro esagonale (h-BN). (b) Immagine AFM che mostra la morfologia di molecole organiche (C8-BTBT) depositate su un transistor a effetto di campo basato su grafene.
