JEM 2100f-UHR JEOL TEM Microscope

Il Microscopio Elettronico a Trasmissione a Emissione di Campo JEM 2100f-UHR (JEOL) ha una tensione di accelerazione da 80 a 200 kV e può raggiungere risoluzioni fino a un decimo di nanometro. Può essere utilizzato anche in modalità STEM (risoluzione di 0,2 nm), sia in dark field che in bright field. È dotato di un apparato di spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (EDS, X-MAX 80T, Oxford Instruments).

Il microscopio può essere utilizzato in modalità TEM ad alta risoluzione classica (HR-TEM) per l'imaging dei campioni con risoluzione atomica (0,1 nm a 200 KeV) e per la diffrazione in aree selezionate. L'unità STEM a dark field può essere utilizzata per l'identificazione delle fasi basata sul contrasto del numero atomico con una risoluzione di alcuni nm. L'analisi può essere estesa all'analisi compositiva (spettroscopia EDX o mappe). Per campioni instabili, è possibile ridurre l'energia del fascio a 80 keV.

Oltre all'analisi strutturale, morfologica e compositiva, questo TEM è anche utilizzato come uno dei metodi standard per eseguire l'analisi della dimensione delle particelle. Altre applicazioni tipiche dello strumento includono: analisi della composizione e dei difetti, indagine sugli effetti dei processi di produzione e distribuzione dimensionale di (nano)particelle in un campione.

Oltre alla deposizione standard (da sospensione) su griglie/supporti TEM, il laboratorio può fornire preparazione di campioni osservabili al TEM, sia per materiali in massa che per sezioni trasversali, attraverso tutti i passaggi di preparazione, dal taglio all’assottigliamento, lucidatura finale e rivestimento.

Responsabile dello strumento: Prof. Assoc. Mattia Fanetti. Personale tecnico responsabile: Dr. Blaž Belec.